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Advantest erweitert SOC-Testplattform T2000

08. Dezember 2010 - Advantest hat drei neue Module und die Infrastruktur-Erweiterung Enhanced Performance Package (EPP) für die SOC-Testplattform T2000 vorgestellt. Das EP Package und die neuen Module unterstützen eine Funktionstest-Abstraktion (FTA), so dass sich auf dem Testsystem Programme zur IC-Design-Verifizierung auf Systemebene ausführen lassen.

Dies ermöglicht bei komplexen SOCs eine deutliche Reduzierung der Durchlaufzeit vom Design bis zum Funktionstest auf Protokollebene. Außerdem bieten die neuen Module 1GDM, DPS90A und GPWGD gegenüber den bisher verfügbaren Modulen die doppelte Testkapazität, da sie doppelt so viele Kanäle pro Modul enthalten und bis 8192 Pins im Testhead installiert werden können. Das neue EP Package ermöglicht Multi-DUT CPU-Konfigurationen nahezu ohne Computing-Overhead. Dadurch können der Durchsatz erhöht, die Testkosten reduziert und Time-to-Market (TTM) verkürzt werden, während sich gleichzeitig die Testprogrammentwicklung, Simulation und das Debugging vereinfachen.

Durch die zunehmende Integration bei multifunktionellen ICs für mobile Geräte sowie den Trend der Hersteller die Wettbewerbsfähigkeit der Chips durch immer höhere Funktionalität zu verbessern, werden Testlösungen benötigt, welche die Testkosten senken und die Time-to-Market verkürzen können. Die neuen Module und das EP Package verbessern die Leistungsfähigkeit der führenden SoC-Testplattform T2000 von Advantest und wurden speziell im Hinblick auf diese Anforderungen entwickelt. Durch den Einsatz der drei neuen Module kann die Anzahl der benötigten Instrumente reduziert und gleichzeitig die Parallelität gegenüber den bisherigen Lösungen verdoppelt werden. Das neue EP Package hilft durch die erweiterte Funktionalität die Testkosten und die Time-to-Yield zu reduzieren. Auch bestehende T2000 Systeme lassen sich für einen höher - parallel - Test aufrüsten.

Wichtige Merkmale der neuen Module

1GDM

Das neue 1GDM Modul von Advantest enthält 256 Kanäle, doppelt so viel wie das bisher verfügbare Digital-Modul 800MDM, wobei die Datenrate auf maximal 1,1Gbps erhöht wurde.

DPS90A

Das Modul DPS90A besteht nur aus einem Modul, während das bisher verfügbare LCDPS/DPS500mA-Modul zwei Steckplätze belegt. Durch die sehr hohe Integrationsdichte kann das Modul DPS90A insgesamt 64 DPS-Kanäle unterstützen.

GPWGD

Das Modul GPWGD konsolidiert die bislang verfügbaren Module AAWGD und BBWGD in einer einzigen hoch integrierten Karte und ermöglicht somit einen umfassenden Funktionstest von sehr leistungsfähigen Audio- und Videofunktionen.

Merkmale des EP Package

Kostengünstige Multisite-CPU-Konfiguration

Die Multisite-CPU-Konfiguration erlaubt eine effiziente und schnelle Ausführung adaptiver Tests und anderen Methodiken, so dass unterschiedliche Prüfungen für die einzelnen Testobjekte (DUT) ausgeführt werden können. Da der mit einer massiven Parallelität verbundene Overhead reduziert werden kann, lassen sich parallele Tests sehr effizient ausführen.

Parallele Testfunktion

Das EP Package beinhaltet eine Rechnerarchitektur, die einen simultanen Ablauf mehrerer Testabläufe ermöglicht, so dass die Testzeit bei parallelen Tests deutlich verkürzt werden kann.

Funktionstest-Abstraktion

Das Modul 1GDM und das EP Package ermöglichen die Ausführung von Programmen auf dem Testsystem zur Design-Verifizierung auf Systemebene, wodurch die Durchlaufzeit vom Design zum Funktionstest auf Protokollebene bei komplexen SOCs reduziert werden kann.