Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Aktuelle Test- und Messtechnik-News

Memory Burn-In-Tester für NAND Flash- und DRAM-Bausteine

Advantest B6700d19. Oktober 2018 – Advantest präsentiert die nächste Generation seiner B6700D Memory Burn-In Tester. Durch Messung der Funktionen von NAND Flash- und DRAM-Memory Bauteilen während des Burn-In-Prozesses bieten die neuen Tester neben der hohen Durchsatzleistung auch niedrige Testkosten.

Da der Markt für Speicher-Halbleiter signifikant wachsen soll, benötigen die Halbleiterhersteller schnelle und für große Volumen geeignete Testlösungen, um mit der steigenden Kundennachfrage Schritt halten zu können. Der Doppelkammer-Tester B6700D erfüllt diese Anforderung mit dem Paralleltest von bis zu 48 Burn-In-Boards bei Geschwindigkeiten bis zu 10 MHz. Dadurch kann der Memory Bauteilehersteller seine neusten Produkte bei niedrigeren Testkosten schneller auf den Markt bringen.

Der neue Memory Burn-In-Tester nutzt eine hochleistungsfähige Stromversorgung, die bis zu 256 Ampere pro Burn-In-Board liefert – doppelt so viel wie die erste Generation der B6700 Tester. Zudem verfügt der B6700D über die doppelte Anzahl an Treiber Pin Ressourcen und erreicht damit eine deutliche Erhöhung der Testfrequenzen.

Ein weiterer Vorteil des B6700D gegenüber seinem Vorgänger ist die Erhaltung oder Erhöhung der Parallelität zur Beibehaltung der hohen Durchsatzleistung, da die Anzahl der NAND-Chips pro Bauelement in Zukunft weiter zunehmen wird. Darüber hinaus kann die Temperaturregelungseinheit des B6700D Betriebsbedingungen replizieren und dabei die Temperatur bis auf ein zehntel Grad genau kontrollieren.

Der neue B6700D verwendet das gleiche Betriebssystem wie sein Vorgänger B6700 und gewährleistet somit eine vollständige Kompatibilität beider Testergenerationen. Die Bad Block Memory- (BBM), Universal Buffer Memory- (UBM) und Data Pattern Memory- (DPM) Funktionen werden unterstützt, um die NAND-Bauteileprüfung zu ermöglichen.

Erste Auslieferungen an Kunden haben bereits stattgefunden.

www.advantest.de/



Weitere News zum Thema:

Aktuelle Termine

SPS/IPC/DRIVES 2018
27. bis 29. November 2018
zur Terminübersicht...
TUZ Workshop
24. bis 26. Februar 2019
zur Terminübersicht...
embedded world 2019
26. Februar bis 28. Februar 2019
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px