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High-Speed-Tester für schnelle Speicher-ICs

11. April 2018 – Advantest hat seinen T5503HS2 Memory Tester vorgestellt. Die produktivste Testlösung der Branche ist sowohl für die schnellsten aktuellen Speicherbausteine als auch für die Super-High-Speed DRAMs der nächsten Generation geeignet. Die Flexibilität des neuen Systems erweitert die Möglichkeiten der T5503 Produktfamilie im gegenwärtigen „Super Cycle“, in dem die weltweite Nachfrage nach Speichern exponentiell ansteigt.

Der „Memory Super Cycle“ wurde durch das rasante Wachstum in den Endmärkten einschließlich mobiler Elektronikgeräte und Server vorangetrieben. Seit 2009 stieg der Marktanteil an mobilen DRAM Bits nach Angaben des Marktforschungsunternehmens IHS Markit um mehr als 500 Prozent. Die Firma IHS Markit schätzt, dass bis 2021 120 Milliarden Gigabit DRAM Kapazität für die unterschiedlichsten Datenverarbeitungsanwendungen wie mobile Elektronik, Rechenzentren, Automobile, Spiele und Grafikkarten benötigt werden. Um dieser enormen und wachsenden Nachfrage gerecht zu werden, entwickeln Chiphersteller neue, innovative SDRAM Technologien wie DDR5 und LP-DDR5 Speicher mit Datenübertragungsgeschwindigkeiten von bis zu 6,4 Gigabit pro Sekunde (Gbps).

Advantest entwickelte das T5503HS2, um Testlösungen für künftige und für aktuelle Speicherbauelemente anzubieten. Das System ist in der Lage, mit Geschwindigkeiten von bis zu 8 Gbps und einer Gesamtzeitgenauigkeit von ±45 Pikosekunden zu testen. Mit seinen 16.256 Kanälen erreicht das vielseitige System die höchste Parallelität und beste Kosteneffizienz in der Halbleiterindustrie beim Testen von LP-DDR5 und DDR5 SDRAM Bauelementen der nächsten Generation. Zudem können Anwender gleichzeitig die heutigen DDR4 ICs, LP-DDR4 Bauelemente und Speicher mit hoher Bandbreite testen. Ausgestattet mit einem optionalen 4,5-GHz Hochgeschwindigkeitstakt verfügt der neue Tester über die Skalierbarkeit für zukünftige Speicher-ICs mit Datenraten von mehr als 8 Gigabit pro Sekunde.

Mit seinen integrierten Funktionen ist der T5503HS2 der einzige Tester auf Produktionsvolumen-Ebene für Ultra-High-Speed Speicher der nächsten Generation, der die wichtigsten neuen Funktionen in LP-DDR5 und DDR5 Geräten unterstützt. Beispielsweise kann der Tester automatisch DQS-DQ Timing Differenzen erkennen und anpassen, um mehr Timing Marge durch Echtzeit-Tracking zu sichern. Zudem ermöglicht ein robuster neuer Algorithmic Pattern Generator (ALPG) die schnelle und qualitativ hochwertige Auswertung von erweiterten Gerätefunktionen. Das innovative, programmierbare Netzteil des T5503HS2 reagiert viermal schneller als die Vorgängerversion und führt zu einem deutlich geringeren Spannungsabfall.

Die unkomplizierte Aufrüstung von T5503 Testern auf das neue T5503HS2 System, erlaubt den Anwendern eine nahtlose und wirtschaftliche Umstellung ihrer Produktion für die nächste Generation von Speichergeräten.

„Unser T5503HS2 ist branchenführend in der Leistung und der Präzision für das schnelle Testen von Speicher-ICs der nächsten Generation“, sagt Masuhiro Yamada, Executive Officer der Advantest Corporation. „Die unübertroffene Skalierbarkeit und Produktivität des Systems ermöglicht es, LP-DDR5 und DDR5 Geräte so schnell, genau und kosteneffizient wie möglich zu evaluieren.“

Die ersten Systemlieferungen an Kunden werden voraussichtlich im zweiten Quartal dieses Jahres beginnen.

www.advantest.de/