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Universelles analoges Pin-Modul für den Bauteiltest

11. März 2016 – Advantest Corporation hat mit der Auslieferung des neuen DC Scale AVI64 Moduls begonnen. Die skalierbare V93000 Plattform bietet damit das derzeit auf dem Markt breiteste Anwendungsspektrum. Mit der innovativen universellen analogen Pin-Architektur von Advantest erweitert das 64-Kanal-Modul den Einsatzbereich der V93000 Plattform auf den Test von Leistungs- und Analog-ICs. Diese kommen in intelligenten, vernetzten Elektronikgeräten der schnell wachsenden Mobilfunk-, Automotiv- und IoT- (Internet der Dinge) Märkte zum Einsatz.

"Durch die Erweiterung unserer skalierbaren V93000 Plattform für umfassende Tests von Analog- und Leistungs-Bauteilen deckt diese nun das gesamte ICs Portfolio ab, von Bauteilen mit nur wenigen Pins bis hin zu komplexen, hoch integrierten SoCs (System-on-Chips)", sagt Hans-Juergen Wagner, Senior Vice President der SoC Product Group von Advantest Corporation. "Durch die kombinierte Abdeckung von Leistungs-/Analog-Tests sowie vollständigen SoC-Tests ermöglichen wir nicht nur eine branchenführende Auslastung, sondern sind für den Megatrend künftiger IoT-Anwendungen, von Smart Homes bis zu intelligenten Städten und darüber hinaus bestens vorbereitet."

Der IoT-Markt treibt die Entwicklung neuer SoC-Design-Generationen mit integrierten Funktionen, wie analoge Sensoren, mobiles Computing, drahtlose Kommunikation und hocheffizientes Leistungsmanagement voran. Diese intelligenten Geräte kombinieren mehr Analog- und Leistungs-Funktionen auf einem IC als je zuvor. Dadurch ermöglichen sie Verbesserungen, wie eine längere Batterielaufzeit für mobile Endgeräte und künftige Automotivanwendungen intelligenter und vernetzter Autos.

Mit dem neuen universellen analogen Pin-Modul AVI64 verfügt der Advantest V93000 Tester über die volle Funktionalität, fortschrittliche SoC-Bauteile zu testen. Das hoch integrierte Modul-Design erlaubt es, mehr Testoperationen mit weniger Kanalkarten auszuführen. Dies ermöglicht nicht nur kompaktere Systeme, sondern verbessert auch die Erweiterbarkeit und Flexibilität. Zudem wird das Loadboard vereinfacht und die Multi-Site-Effizienz erhöht. Gleichzeitig werden branchenweit niedrigste Testkosten erzielt.

Die Testkosteneinsparungen sind im Vergleich zu Wettbewerbssystemen erheblich, da die anderen Systeme für dieselben Testergebnisse mehr Testkarten benötigen.

Mit der universellen Pin-Architektur des AVI64 Moduls hat jeder Pin Zugriff auf alle notwendigen Testfunktionen, wie Arbiträr-Signalgenerator (AWG) und Digitizer, Hochspannungs-Zeitmesseinheit (TMU) und digitale Hochspannungs-I/Os. Außerdem bietet das AVI64 potentialfreie Hochstromeinheiten, differentielle Spannungsmessungen, eine integrierte analoge Schaltmatrix. Spannungs- und Stromparameter können simultan an jedem Pin genau gemessen werden. Zusammen mit der hohen Dichte von 64 Kanälen pro Instrument bietet das Modul ein breites Leistungsspektrum für den Test unterschiedlichster ICs. Dazu gehören genaue Analog-, digitale Hochspannungs-, Mixed-Signal-, intelligente Sensor- und Hochstrom-Halbleiter. Aufgrund der vorher beschriebenen Merkmale erzielt die universelle analoge AVI64 Pin-Einheit bei einer maximalen Auslastung der Testressourcen und einem branchenführenden Durchsatz eine „Best-in-Class“-Testgenauigkeit pro Pin.

Zu den wichtigsten Merkmalen des neuen Moduls gehört die Domain Sync Funktion. Diese dient dem Timing-Abgleich analoger und digitaler Signale des zu prüfenden Bauteils (DUT). Außerdem lässt sich durch die hohe Multi-Site-Effizienz und die geringen Eigenstörungen des Systems die Time-to-Market und die Time-to-Quality für neue IC-Designs verkürzen.

Das universelle analoge AVI64 Pin-Modul ist bereits bei mehreren Kunden im Einsatz. Zudem hat Advantest einen Auftrag von einem führenden Fabless-Design-Haus in China erhalten.

www.advantest.de/