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Neuer CIE-Report zur Spektralradiometrie

26. Juli 2022 – Unter wissenschaftlicher Leitung von Instrument Systems hat das Technical Committee TC2-80 der CIE einen neuen Technischen Report zu spektralradiometrischen Messungen von optischen Strahlungsquellen erstellt. Das jetzt als CIE 250:2022 veröffentlichte Dokument löst den fast 40 Jahre alten Bericht CIE 063-1984 ab. Praxisorientiert erklärt er die grundlegenden Messprinzipien und gibt praktische Hinweise für die Messung von Bestrahlungsstärke, Strahlungsdichte, Strahlungsintensität und Strahlungsfluss sowie die Instrumenten-Kalibrierung.

Darüber hinaus beschreibt der Bericht detailliert die physikalischen Effekte, die für spektralradiometrische Messungen und insbesondere die Abschätzung von Messunsicherheiten relevant sind. Die bei jeder Messung auftretenden Messunsicherheiten bestimmen für rückführbare Messwerte quantitativ die Genauigkeit der Kalibrierkette.

Der neue technische CIE-Report 250:2022 enthält grundlegende Messprinzipien und praktische Hinweise zur Spektralradiometrie optischer Strahlungsquellen im Wellenlängenbereich von 200 - 2500 nm. Er befasst sich in erster Linie mit den Messgrößen Bestrahlungsstärke, Strahlungsdichte, Strahlungsintensität und Strahlungsfluss sowie davon abgeleiteten Größen. Darüber hinaus gibt er einen detaillierten Überblick über physikalische Effekte, die für die Abschätzung von Messunsicherheiten relevant sind. Der unter Vorsitz von Dr. Tobias Schneider, Chief Scientist von Instrument Systems, entstandene Bericht bietet einen umfassenden Einblick in die relevante Terminologie und die Grundlagen der Kalibrierung spektralradiometrischer Messinstrumente. Er ist eine praktische Anleitung zum Identifizieren, Verstehen und Quantifizieren relevanter Messunsicherheitskomponenten und kann im Online-Shop der CIE erworben werden: www.techstreet.com/cie.

www.instrumentsystems.com/