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electronica 2016: Alle Test- und Messtechnik-Neuheiten auf einen Blick - Update!

04. November 2016 - Vom 09. bis 11. November findet in München wieder die Messe electronica statt. Wie immer gibt es auch zahlreiche Neuheiten im Test- und Messtechnik-Bereich, die erstmals auf der electronica ausgestellt werden. Wir haben die wichtigsten Neuerungen für Sie in übersichtlicher Form zusammengestellt. Die Liste erhebt keinen Anspruch auf Vollständigkeit und wird auch noch während der Messe stetig erweitert.

Die folgenden Neuheiten aus dem Test- und Messtechnik-Bereich wurden bisher angekündigt:

Unternehmen	Neuheit	Stand
Advantest	Tester für IoT-Bauteile T2000 AiR	A1-565
Advantest	Hochgenaue A/D-Wandler-Testlösung für EVA100 System	A1-565
ATEcare	Manuelle und halbautomatische Röntgensysteme von Crative Electron	A1-143
ATEcare	2. Generation der OMRON 3D-AOI-Systeme	A1-143
GÖPEL electronic	3D-AOI Vermessung im Vario Line System	A1-351
GÖPEL electronic	AXI-System X-Line mit automatische Lotkugelsuche	A1-351
GÖPEL electronic	GCAT Gigabit Link Cable Tester	A1-351
HEIDEN power	Neu: Vertrieb von Leistungsanalysatoren der Firma Infratek, 6-Kanal-Gerät 108A	A2-513
HEIDEN power	Kompakte rückspeisende AC-Quelle HACR50	A2-513
Instrument Systems	Spektralradiometer für Messungen an Laserdioden	A1-443
Keysight	eCall Konformitätstestlösung	A1-506
National Instruments	PXI-Oszilloskop mit 14 Bit Auflösung und 1GS/s	A1.317
Pico Technology	Tastköpfe für Signale bis 18 Gb/s	A1-115
PLS - Programmierbare Logik & Systeme	Debug-, Test- und Systemanalyse-Tool für Infineon AURIX TC3xx Mikrocontroller	A6-A16
Rigol	Oszilloskop-Familie DS4000E	A1-224
Rohde & Schwarz	Testlösung für Keyless-Entry Systeme (Automotive)	A1-307
Rohde & Schwarz	PIM-Analysator für Test von Basisstationen	A1-307
Rohde & Schwarz	Neuer Millivolt-Tastkopf für Oszilloskope	A1-307
Rohde & Schwarz	Analyse von CXPI-Schnittstellen mit dem Oszilloskop	A1-307
Tektronix	CAN FD Unterstützung für Mixed-Domain-Oszilloskope	A1-438
Tektronix	100G Link Training Tool	A1-438
Tektronix	Wafer-Tester für Leistungshalbleiter bis 3 kV (Keithley)	A1-438
Viscom	Schutzlack-Inspektion mit hoher Auflösung	A1-227
Viscom	360View 3D-Aufnahmen mit AOI-System	A1-227
Yokogawa	PSI5 Analyse Funktion für Oszilloskope	A1-117

Falls wir eine Neuvorstellung zur electronica übersehen haben, freuen wir uns über einen Hinweis an: Diese E-Mail-Adresse ist vor Spambots geschützt! Zur Anzeige muss JavaScript eingeschaltet sein!

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