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Programmierbare PXI Netzteile für automatisierte Testsysteme

27. Juni 2013 – National Instruments stellt universelle, programmierbare Netzteile mit sehr hoher Leistungsdichte im PXI-Formfaktor für automatisierte Testsystemen vor. Diese hohe Leistungsdichte der Module NI PXIe-4112 und NI PXIe-4113 hilft Anwendern, den Platzbedarf im Rack zu verringern und gleichzeitig den Entwicklungsprozess zu vereinfachen, so dass unterschiedliche Formfaktoren nicht mehr kombiniert werden müssen.

 Die neuen programmierbaren Netzteile eignen sich optimal für eine Vielzahl von Anwendungen – von der Luft- und Raumfahrt sowie dem Verteidigungswesen bis hin zum Test im Automobilbereich. Die Module verfügen über zwei Stromversorgungskanäle mit einer Leistung von 60 W in einem einzelnen PXI-Express-Steckplatz. Das Netzteil NI PXIe-4112 bietet 60 V bei 1 A pro Kanal und das NI PXIe-4113 liefert 10 V bei 6 A pro Kanal. In Kombination können die zwei Kanäle eine Leistung von 120 Watt erreichen. Zur einfachen Synchronisation von Messungen können Anwender die Netzteile mit mehr als 1500 modularen PXI-Messgeräten kombinieren – von Digitalmultimetern bis hin zu RF-Analysatoren und -Generatoren – und die Messgeräte über die Backplane des PXI-Express-Chassis triggern.

Außerdem lassen sich Messungen ohne Programmieraufwand durchführen, indem Soft-Frontpanel mit einer interaktiven Benutzeroberfläche verwendet oder vollständig automatisierte Anwendungen mithilfe der LabVIEW-Beispiele programmiert werden. Beide Varianten werden mit den Netzteilen geliefert. Darunter befinden sich Beispielprogramme, die zur Erzeugung von Spannungs-Sweeps dienen und als Gleichspannungs- und Gleichstromquelle eingesetzt werden. Durch die nahtlose Integration von LabVIEW kann die Entwicklungszeit stark verkürzt und gleichzeitig die Systemskalierbarkeit für eine Reihe von Anwendungen verbessert werden.

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