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Dynamische Digital I/O Karte für PXI und ABex

27. November 2009 - Konrad Technologies stellt eine neue dynamische Digital I/O Karte KT-TM-401 vor, die sich beispielsweise für den Funktionstest von Automotive Steuergeräten mit parallelen Pattern-Tests, den Test von Geräten in der Luftfahrtindustrie, sowie als Non-Return-to-Zero Pin-Elektronik im Halbleitertest eignet.

 

Die Karte wurde für PXI-basierte Systeme mit ABex-Erweiterung entwickelt und basiert auf der leistungsfähigen FlexRIO Architektur von National Instruments. Mit insgesamt 128 isolierten digitalen I/O und wählbaren Ausgangspegeln bzw. Schwellwerten von 0...28V können eine große Vielfalt von Testapplikationen einfach und kostengünstig gelöst werden.

Zu den weiteren technischen Details gehören eine Unterstützung für einen integrierten Selbsttest, einzeln deaktivierbare digitale Ausgangspins, Trigger-Unterstützung sowie ein industrietauglicher 192-poliger Frontstecker. Eine Virginia Panel Schnittstelle ist optional erhältlich.

Die Karte erlaubt Sample Raten von 1MBit/s bei 28V Pegel. Zur Unterstützung bei der Testprogrammerstellung gehört Treibersoftware für Windows XP sowie eine vollständige Integration in LabVIEW und TestStand.

www.konrad-technologies.de