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Aktuelle Test- und Messtechnik-News

NI-Solid-StatePXI-Schaltmodule mit Solid-State-Architektur

01. Juni 2012 – National Instruments stellt die neuen Solid-State-RF-Multiplexer NI PXI-2543 und NI PXIe-2543 vor, mit denen eine langlebige, leistungsstarke Lösung für das Routen von RF-Signalen bis zu 6,6 GHz zur Verfügung steht. Die Solid-State-Architektur ermöglicht höhere Schaltgeschwindigkeiten und häufiger wiederholbare Messungen als traditionelle elektromechanische Schaltlösungen.

„Die neuen Solid-State-Schaltmodule NI PXI-2543 und NI PXIe-2543 bauen auf der NI-PXI-Plattform auf und bieten in RF-Anwendungen die Geschwindigkeit und Verlässlichkeit einer Solid-State-Architektur“, erläutert Charles Schroeder, Director of Test Marketing bei National Instruments. „Mit diesen Modulen können Ingenieure aus dem Bereich automatisierte Tests eine Vielzahl von PXI-Messgeräten, z. B. RF-Generatoren und -Analysatoren, integrieren und synchronisieren, um Präzision sowie Durchsatz zu erhöhen und so das Beste aus ihren Systemen herauszuholen.“

Überblick über die Funktionen:

  • Zweifacher 4x1-Multiplexer bis 6,6 GHz für RF-Schaltungen mit hoher Kanaldichte, ideal für parallele Prüfungen
  • Solid-State-Architektur für eine lange Schalterlebensdauer
  • 50-Ohm-Terminierung auf allen Kanälen für höhere RF-Leistung
  • Integrierte PXI-Triggerung für schnelle und wiederholbare Messungen
www.ni.com/pxi/d


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