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Neue PXIe-Module und neues PXIe-Chassis von NI

10. Juli 2009 - Von National Instruments sind zwei neue PXI Express Karten mit 32 Signalgenerator-/analysator-Kanälen sowie ein neues PXI-Express-Chassis (3 HE) mit acht Steckplätzen und hoher Bandbreite für automatische Testanwendungen erhältlich. Die Produkte sollen den Test schneller Halbleiterbauteile vereinfachen und beschleunigen.

Die neuen Digital-Signalgeneratoren und Signalanalysatoren des Typs NI PXIe-6544/45 unterstützen Taktraten von bis zu 100 bzw. 200 MHz. Das Modell PXIe-6544 verfügt über 32 Kanäle, die sich per Software individuell als Ein-oder Ausgang programmieren lassen. Dabei lassen sich Ausgangsspannungen von 1.2, 1.5, 1.8, 2.5 und 3.3 V einstellen. Die Erfassung von Signalen und die Generierung von Signalen ist mit bis zu 400 MB/s möglich. Beim Modell PXIe-6545 ist durch die höhere Taktrate von 200 MHz sogar eine Erfassung von Signalen mit einer Streaming-Rate von bis zu 660 MB/s möglich.

Beide Module verfügen zudem über erweiterte Timing- und Synchronisationsfunktionen. Damit lässt sich ein Test schneller Halbleiterbauteile, wie z.B. A/D-Wandler, D/A-Wandler, sowie von Speichern, ASICs und Mikrocontrollern einfacher und schneller durchführen.

Das neue 3HE PXI-Express-Chassis PXIe-1082 verfügt über insgesamt acht Steckplätze (vier hybride Slots, drei PXIe und ein PXI Express System Timing Slot) und erlaubt den Einsatz von PXI, PXI Express, CompactPCI und CompactPCI Express Modulen. Es bietet eine Bandbreite von bis zu 1 GB/s pro Steckplatz und bis zu 4 GB/s im Gesamtsystem.